东大《现代材料测试技术》在线平时作业123
试卷总分:100  得分:100
一、单选题 (共 10 道试题,共 50 分)
1.吸收电子的产额与样品的原子序数关系是原子序数越小，吸收电子（       ）。
A.越多
B.越少
C.不变

2.X射线连续谱中存在一个短波极限，其波长入＝（　 　）。
A.1.24/V(千伏) nm
B.12.4/V(千伏) nm
C.12.4/V伏 nm

3.当X射线将某物质原子的K层电子打出后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生( )。
A.特征X射线
B.背反射电子
C.俄歇电子

4.通过透镜中心且与主轴垂直的平面叫做（    ）。
A.焦平面
B.透镜主平面
C.像平面

5.对样品进行表面形貌分析时应使用（  ）。
A.X射线衍射（XRD）
B.透射电镜（TEM）
C.扫描电镜（SEM）

6.在透射电镜中称为衬度光阑的是（         ）。
A.聚光镜光阑
B.物镜光阑
C.选区光阑

7.电子枪中控制电子流量和流向的是（         ）。
A.阴极
B.栅极
C.阳极

8.在debye照相法中，不受底片收缩影响的底片安装方法是（       ）。
A.正装
B.反装
C.不对称

9.据Ewald图解可知，满足衍射条件的晶面倒易点阵，必落在半径为（         ）的反射球面上。
A.1/入
B.2/入
C.1/2 入

10.倒易点阵中的一点代表的是正点阵中的（      ）。
A.一个点
B.一个晶面
C.一组晶面。

二、判断题 (共 10 道试题,共 50 分)
11.原子序数衬度是利用对原子序数变化敏感的背散射电子作为调制信号而形成的形貌像。

12.透射电镜成像系统中，若使中间镜物平面与物镜像平面重合的操作称为成像操作；而使中间镜的物平面与物镜背焦面重合的操作称为衍射操作。

13.当X射线照射在一个晶体时，产生衍射的必要和充分条件是必须满足布拉格方程。

14.电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。

15.当X射线管电压低于临界电压时仅可以产生连续X射线；当X射线管电压超过临界电压就可以产生特征X射线和连续X射线。

16.背散射电子像和吸收电子像都可以显示样品的元素分布状态。

17.体心立方点阵的系统消光规律是当 H、k、L全为奇数或全为偶数时才出现反射。

18.激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。

19.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量。

20.X射线是一种电磁波，产生X射线的核心部件是X射线管。
《现代材料测试技术》在线平时作业2-00001
试卷总分:100  得分:100
一、单选题 (共 10 道试题,共 50 分)
1.在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做（      ）。
A.二次电子
B.背散射电子
C.俄歇电子

2.色差是一种（     ）。
A.球差
B.像差
C.像散

3.对样品进行表面形貌分析时应使用（  ）。
A.X射线衍射（XRD）
B.透射电镜（TEM）
C.扫描电镜（SEM）

4.电子枪中给电子加速的称为（     ）。
A.阳极
B.阴极
C.栅极

5.据Ewald图解可知，满足衍射条件的晶面倒易点阵，必落在半径为（         ）的反射球面上。
A.1/入
B.2/入
C.1/2 入

6.让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法，叫做（         ）。
A.明场成像
B.暗场成像
C.中心暗场成像

7.把透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的（      ）。
A.景深
B.焦深
C.球差

8.倒易点阵中的一点代表的是正点阵中的（      ）。
A.一个点
B.一个晶面
C.一组晶面。

9.能谱仪的分辨率比波谱仪（     ）。
A.高
B.低
C.相同

10.把透镜像平面允许的轴向偏差定义为（   ）。
A.球差
B.景深
C.焦深

二、判断题 (共 10 道试题,共 50 分)
11.体心立方点阵的系统消光规律是当 H、k、L全为奇数或全为偶数时才出现反射。

12.布拉格方程的物理意义是指原子面对X射线的反射并不是任意的，只有当λ、θ和d三者之间满足此方程时才能发生反射。

13.扫描电镜二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。

14.晶体的电子衍射斑点是相应晶体倒易点阵二维截面的放大象。

15.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量。

16.扫描电镜的衬度和透射电镜一样取决于质厚衬度和衍射衬度。

17.当X射线管电压低于临界电压时仅可以产生连续X射线；当X射线管电压超过临界电压就可以产生特征X射线和连续X射线。

18.透射电镜图像的衬度与样品成分无关。

19.扫描电镜的表面形貌衬度是采用背散射电子形成的电子像。

20.电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。
《现代材料测试技术》在线平时作业3-00001
试卷总分:100  得分:100
一、单选题 (共 10 道试题,共 50 分)
1.把透镜像平面允许的轴向偏差定义为（   ）。
A.球差
B.景深
C.焦深

2.在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做（      ）。
A.二次电子
B.背散射电子
C.俄歇电子

3.对样品进行表面形貌分析时应使用（  ）。
A.X射线衍射（XRD）
B.透射电镜（TEM）
C.扫描电镜（SEM）

4.色差是一种（     ）。
A.球差
B.像差
C.像散

5.在debye照相法中，不受底片收缩影响的底片安装方法是（       ）。
A.正装
B.反装
C.不对称

6.入射电子波在样品中振荡的深度周期叫做（       ）。
A.衍射衬度
B.消光距离
C.偏离矢量

7.让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法，叫做（         ）。
A.明场成像
B.暗场成像
C.中心暗场成像

8.据Ewald图解可知，满足衍射条件的晶面倒易点阵，必落在半径为（         ）的反射球面上。
A.1/入
B.2/入
C.1/2 入

9.通过透镜中心且与主轴垂直的平面叫做（    ）。
A.焦平面
B.透镜主平面
C.像平面

10.电子枪中给电子加速的称为（     ）。
A.阳极
B.阴极
C.栅极

二、判断题 (共 10 道试题,共 50 分)
11.透镜的数值孔径与折射率有关。

12.X射线是一种电磁波，产生X射线的核心部件是X射线管。

13.体心立方点阵的系统消光规律是当 H、k、L全为奇数或全为偶数时才出现反射。

14.扫描电镜二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。

15.激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。

16.放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。

17.随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。

18.背散射电子像和吸收电子像都可以显示样品的元素分布状态。

19.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。

20.原子序数衬度是利用对原子序数变化敏感的背散射电子作为调制信号而形成的形貌像。